動態范圍如何影響頻譜分析儀？
時間:2021-04-07 17:30來源:未知 作者:Hong Kong
動態范圍如何影響頻譜分析儀？
諸如頻譜分析儀之類的儀器將依靠***動態范圍來切穿不需要的偽像。諧波和互調可能會超出本底噪聲，從而損害頻譜分析儀的性能。了解組成動態范圍的參數不僅可以幫助確保頻譜分析儀正常工作，而且可以提供有關所有應符合ITU準則的儀器的關鍵信息。
某些步驟可以幫助提***靈敏度，例如降低參考電平，輸入衰減或分辨率帶寬（RBW）。諸如頻譜分析儀前置放大器之類的設備也可以減少那些低噪聲問題。盡管這些變化可以降低機器的本底噪聲，但它們也可能降低設備對更強信號的抗擾性。從在非線性區域中運行開始，那些更強的信號可能會對設備產生紋波效應。該設備可能會產生干擾，諧波和互調產物。二次諧波也可能發生，其工作頻率是輸入信號頻率的兩倍。設備會將這些信號顯示為實際信號，這似乎是網絡中的干擾發射機（請參見圖1）。
動態范圍
***動態范圍為這些錯誤信號提供了解決方案。具有***動態范圍，頻譜分析儀和其他測試儀器可以掩蓋或減少二次諧波。
動態范圍是在偽影出現在本底之上之前可以檢測到***小和***大強度信號的區域。通常，當此區域較大或偽像的振幅較小時，會出現較***的動態范圍。***動態范圍還減少了這些偽像（如諧波）被誤認為真實信號的機會。理想情況下，儀器將具有較***的互調自由動態范圍（IMFDR）。設備的IMFDR是動態范圍，在這種范圍內，有害的互調仍低于本底噪聲。
***動態范圍（HDR）一詞通常同時用于頻譜分析儀和無線電接收器。即使該區域中有大信號，具有HDR的設備也可以記錄這些小信號。為了實現HDR，頻譜分析儀***先需要對小信號進行***靈敏度測試。該設備還需要具有消除那些大信號引起的擁塞的能力。
***動態范圍對于頻譜分析儀至關重要，但也需要靈活性。根據對更***或更低信號電平的需求，動態范圍可以改變。當在非線性區域工作時，那些不需要的偽像會進一步損害動態范圍。使用頻譜分析儀時，尤其應注意以下兩個問題：諧波和互調。
諧波-如上所述，二次諧波的發生頻率是輸入信號頻率的兩倍。***階（即n階）諧波在輸入頻率的n倍處發生。諧波只會在存在信號時發生，通常是在設備中的射頻組件在非線性區域中以更***的功率電平工作時。
互調-來自RF組件的另一個工件，該組件在互調中工作于非線性區域。但是，與諧波不同，互調將兩個或多個信號混合在一起以形成新的輸入頻率。例如，頻率f1和f2的二階互調頻率為f1 + f2和f2-f1，三階互調頻率為2f1 + f2、2f2 + f1、2f1-f2和2f2-f1。
信號電平
偽影還將根據輸入信號的變化而發生很大變化。例如，二階偽像的dB會改變兩倍于輸入變化的大小。三階偽像將類似地將輸入信號變化的變化增加三倍。
截取點也根據儀器的動態范圍和輸入衰減而有所不同。取決于工件，這是呈現截取點的方式：
IP2 / SOI：基于互調產物的二階截點。
IP3 / TOI：基于互調產物的三階截點。
SHI：基于諧波的二階截點。
THI：基于諧波的三階截點。
IP2 / SOI，SHI，IP3 / TOI和THI的值會隨著儀器的輸入衰減而自動更改。為了保持精度，動態范圍和相關規格應做相同的事情。
攔截點
輸出功率及其相關的諧波直接反映了輸入功率。隨著輸入功率以該線性關系增加，輸出信號功率將與偽像的電平相交。當涉及三階互調時，該攔截點稱為TOI或IP3。此時，信號相等，三階偽像與目標信號之間的電平差和動態范圍為0 dB。
其他攔截點具有相似的名稱和定義：IP2 / SOI，SHI和THI。當單個產生諧波的強信號干擾弱信號的測量時，SHI表示動態范圍。當兩個或更多個強輸入信號引起諧波干擾時，會發生THI。
截點將根據諸如二次諧波或三次諧波和互調之類的因素而變化。
丹尼爾
截取點并不是儀器的IMFDR的***關鍵方面。另一個因素顯示平均噪音水平（DANL）。儀器的測量系統取決于其自然噪聲。較低的本底噪聲導致較大的動態范圍。系統靈敏度，RBW設置和熱噪聲都會影響DANL。
要找到動態范圍，無論測試IP2，IP3，DANL還是噪聲系數（NF），儀器設置都應該相同。
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